一．測試目的

Open-Short Test也稱為ContinuityTest或Contact Test，用以確認在器件測試時所有的信號引腳都與測試系統相應的通道在電性能上完成了連接，并且沒有信號引腳與其他信號引腳、電源或地發生短路。測試時間的長短直接影響測試成本的高低，而減少平均測試時間的一個好方法就是盡可能早地發現并剔除壞的芯片。Open-Short測試能快速檢測出DUT是否存在電性物理缺陷，如引腳短路、bond wire缺失、引腳的靜電損壞、以及制造缺陷等。另外，在測試開始階段，Open-Short測試能及時告知測試機一些與測試配件有關的問題，如ProbeCard或器件的Socket沒有正確的連接

二．測試方法

Open-Short測試的條件在器件的規格數或測試計劃書里通常不會提及，但是對大多數器件而言，它的測試方法及參數都是標準的，這些標準值會在稍后給出。     基于PMU的Open-Short測試是一種串行（Serial）靜態的DC測試。首先將器件包括電源和地的所有管腳拉低至“地”（即我們常說的清0），接著連接PMU到單個的DUT管腳，并驅動電流順著偏置方向經過管腳的保護二極管—— 一個負向的電流會流經連接到地的二極管（圖1），一個正向的電流會流經連接到電源的二極管（圖2），電流的大小在100uA到500uA之間就足夠了。大家知道，當電流流經二極管時，會在其P-N結上引起大約0.65V的壓降，我們接下來去檢測連接點的電壓就可以知道結果了。   既然程序控制PMU去驅動電流，那么我們必須設置電壓鉗制，去限制Open管腳引起的電壓。Open-Short測試的鉗制電壓一般設置為3V——當一個Open的管腳被測試到，它的測試結果將會是3V。串行靜態Open-Short測試的優點在于它使用的是DC測試，當一個失效（failure）發生時，其準確的電壓測量值會被數據記錄（datalog）真實地檢測并顯示出來，不管它是Open引起還是Short導致。缺點在于，從測試時間上考慮，會要求測試系統對DUT的每個管腳都有相應的獨立的DC測試單元。對于擁有PPPMU結構的測試系統來說，這個缺點就不存在了。當然，Open-Short也可以使用功能測試（Functional Test）來進行。